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测厚仪和厚度测试仪都是用来测量材料厚度的设备，其试验中的原理有一些相似之处。
测厚仪通常利用不同的技术原理来测量材料的厚度，如超声波测厚仪、放射性测厚仪、机械式测厚仪等，超声波测厚仪通过发射超声波到被测材料，然后接收反射回来的超声波，根据超声波的往返时间计算材料的厚度，放射性测厚仪则是利用放射源发出的射线穿透材料，通过测量射线的衰减程度来确定材料的厚度，机械式测厚仪则是通过压力传感器或位移传感器直接测量材料的厚度。
厚度测试仪的原理也涉及到物理学的多个领域，电容式厚度测试仪利用电容原理测量薄膜厚度，通过测量两个电极之间的电容值来计算薄膜的厚度，还有一些厚度测试仪采用光学原理，如激光三角测量法或光学干涉法来测量材料的厚度，这些设备通过发射激光或光线到被测材料上，然后通过接收反射回来的光线，根据光线的特性来计算材料的厚度。
测厚仪和厚度测试仪在试验中都是基于物理学原理来测量材料的厚度，具体的原理取决于设备的类型和应用场景，但大体上都是通过发射某种信号或能量到被测材料上，然后接收反射回来的信号或能量，最后根据信号或能量的特性来计算材料的厚度，这些设备广泛应用于制造业、质量控制、科研等领域，为生产过程中的质量控制和产品性能评估提供重要的数据支持，以上内容仅供参考，如需更多信息，建议访问相关论坛或咨询专业工程师。